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为何NAND Flash可成为车用电子可信赖的低成本解决方案?

一般分别而言, 有两种非挥发性闪存(non-volatile Flash)可供系统设计者在存储需要上选择使用。

一种是NOR Flash,  这是一种稳定可靠的内存, 可以长时间读写并保存资料。但是它能够适合生产的容量相对较低, 一般在256Mb 以下, 并且单位成本相对较高。

另一种是NAND Flash, 虽然较容易出现坏点(bit error), 但它单位成本相对低廉, 适合在需要高容量内存需求的应用上(data storage)  (-截至 2018年2月, 先进制程的3D NAND, 可以生产容量高达 6Tb, 并且每单位成本非常低廉。)

这为设计者在选择闪存类型上提供了一个简单、现成的经验法则:

这是总结了业界的一般假设及广泛的观点, 既是事实, 但也只是部分的事实。实际上, 随着制程技术在NOR和 NAND的演进, 两者的优势和缺点也在改变当中。在某些情况下, NAND Flash 也用在 code storage上, 不但提供相似于 NOR Flash 一样的稳定可靠性能, 并且单位成本只要不到一半。 

本文要描述的就是NOR Flash在一些code storage应用环境上, 并不是唯一选择。

 

为什么现在选择Flash种类在个别应用上是更加重要

对于许多嵌入式应用 (embedded applications)来说, 使用串行式传输接口(SPI interface) 的NAND 来取代 NOR, 并不会有太多问题。但是在容量在256Mb以下, 几乎很少发生, 因为在低容量的Flash, 周边电路所占在组件的面积比例较大, NAND不会在成本上有多大优势。但在512Mb 和以上的容量, array面积占用了组件的主要部份, 成本优势就非常显著。 

然而, 对于现在越来越多的嵌入式应用, 256Mb 内存已经不敷使用, 尤其在汽车系统中最为明显。从先进驾驶辅助系统 (ADAS) 到完全自动驾驶, 复杂的汽车应用将更需要高容量的内存(有些应用容量需求高达 2Gb (或 256MB)), 这对设计者而言, 成本的考虑变得相对重要许多 。

 

NOR 制程微缩技术的瓶颈

制程微缩是半导体降低成本的不二法门, 对NOR FALSH而言, 在 1986年, 最领先的制程是1.5µm。经过二十多年后, 制程进步到65nm。然而NAND FLASH 进展更快, 如今最先进的 3D NAND 已经可以用 1x nm制造。 然而, NOR FLASH 制程微缩却比NAND都要困难得多。英特尔在 2008年发布的一篇论文, 已经介绍了45nm 制程。可是截至 2018年, 大约十年后的今天, 还是只有一两个制造商可以提供45nm NOR FLASH产品。其他供货商的4x nm技术仍在开发中。这对车用电子系统制造商来说, 是一天大的坏消息, 由于安全装备跟自动驾驶的发展, 需要容量越来越大的NOR Flash来做程序代码的存储(code storage), 但是成本却越来越高, 因此, 如果NAND flash 能够提供跟NOR Flash 一样的可靠度质量, 以单位成本而言, 是一个很好的解决方案。

为了回答这个问题, 我们需要了解NAND Flash IC 数据遗失的机制。

 

一般NAND Flash常见的故障模式(failure modes)

在正常使用Flash IC过程中, 会有两种主要状况容易发生坏点 (bit error):

资料移失而产生读取错误的风险, 可以藉由通过ECC(Error Correcting Code )校正来消除。

华邦电子46nm 的NAND Flash 仅需要1 bit ECC.

电子泄漏(electron leakage),是无法避免的。它的风险可以用可计算的机率来表示, 每个位(cell)在写入后, 里面的电子都会随时间及外在环境条件而慢慢遗漏, 当这位中的电荷经过很长时间而减少到无法可靠地读取, 就会失效。

图1所示, 相同制程下, NAND Flash每单元的面积(cell size)是小于NOR Flash. 这是这两种Flash先天的设计, 并解释了为什么NAND Flash可以提供了较低的每单位成本(cost-per-bit)。

Fig. 1: comparison of NOR and NAND cell sizes with extrapolation of NOR cell size if NOR technology scaled down to 2xnm. If a 2xnm NOR device could be produced, its cell size would be similar to that of today’s 4xnm serial NAND devices. (Image credit: Winbond) (Appendix: reference 1

 

图2显示, SPI NOR和 SLC(single-Level Cell) serial NAND 每个位电子数目的比较, 这有助于解释为什么 NOR是相对"可靠" 的内存类型。如图2, 在130nm制程下, 每个位包含4000电子, 保守地假设一个cell一个月会移失1个电子, 则十年会遗失120个电子, 这对读取数据而言是没影响的程度。然而, 当制程进步, 每个位越来越小, 较小的cell只能保有较少的电荷, 这对NOR 跟NAND来说都是一样的。今天的1x nm 制造的 MLC或着 TLC NAND, 这么小的cell只能保存少量电子, 而且很容易会在几小时或几天内漏光, 因此需要复杂的周期性确认跟重新写入(scan-and-refresh)来保存数据。然而, 对于车用电子, 在十年内对数据丢失是零容忍。并且车用电子设计者也不想处理和面对复杂的周期性确认跟重新写入(scan-and-refresh)的风险。

 

Fig. 2: even down to the 3xnm node, a NAND Flash cell will contain above 500 electrons – the required number for classification as a ‘High Quality’ memory. (Image credit: Winbond) (Appendix: reference 2)

 

那么, 在需要高可靠性的应用中, "高质量" 的Flash每个cell所需的最低电子数是多少?科学文献和判断表明, 500个电子(per cell) 可以被认为是必要的门坎, 因为这样一个cell仍将保留75% 的存储电子在10年后 (假设每个月遗失一个电子)。图2显示了在46nm 和3xnm 之间的serial NAND都超过了这个值(500颗)。

华邦电子使用46nm制程所开发的高质量SLC serial NAND, 是经过严格的筛选和测试程序, 完全符合车用电子的严格要求。如图3所示, 在各种不同温度的测试条件下, 依然保留优异的数据存储(data retention)性能, 可与在65nm制程(及包含以下)NOR Flash相媲美。

Figure 3 shows that data retention time of Winbond’s HQ serial NAND devices is comparable to that of today’s NOR Flash devices fabricated at 65nm and below.

 

在车用电子应用中, 对于高质量serial NAND 的要求是要能够在85°C 高温下完成100次写入/擦除 (Program/Erase cycles) , 并保存资料25年。但在汽车实际应用中, 多数几乎不会操作达到100次写入/擦除以上。 测试数据显示, 华邦高质量的serial NAND 能够在85°C下完成10,000次写入/擦除 (Program/Erase cycles)后, 并保存资料超过15年, 跟NOR Flash在车用市场上的表现是一样的, 但是每单位成本只有NOR Flash 的 一半不到, 尤其在高容量512Mb以上, 成本优势更为明显。

 

更适用于车用电子

华邦高质量serial NAND 的另一项保证是在100次写入/擦除 (Program/Erase) 内不会有坏块 (bad blocks) 产生, 这意味着无需在 SoC 或微控制器中使用坏块管理 BBM (bad block management)机制。BBM 通常需要使用于传统的serial NAND。另外, 华邦高质量serial NAND 还支持快速读取(page0 is ready at power-up), 并且跟NOR Flash使用的读取指令(command)相同, 更易于搭配在已经量产的SoC或应用处理器使用。

对于车用电子系统设计者而言, 256Mb 以下使用NOR Flash, 512Mb(含)以上使用相同脚位(pin out)的华邦高质量serial NAND, 可以很顺利的转换。

 

高成本效益并且无性能损失

NOR Flash 在45nm制程以下微缩遇到瓶颈, 但是日新月异的车用市场又需要更高容量的存储内存(code storage)来应付愈趋复杂的安全及自动驾驶要求, 华邦高质量低成本的serial NAND 能够在 512Mb, 1Gb 和2Gb 的容量, 为汽车制造商提供了一个新的解决方案, 同时又能满足严苛的车用电子规范。

 

Appendix: image references

作者: 华邦电子 技术总监Anil Gupta, 资深技术经理 胡瞬钟

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